系统芯片的可测性设计技术研究

摘要：

随着深亚微米、超深亚微米工艺的发展,系统芯片(SoC)技术成为微电子技术发展的主流.相应地,传统的测试技术已不能满足需要.本文介绍了当前用于系统芯片测试的边界扫描、内置自测试(BIST)等可测试性设计技术,并对系统芯片的设计方法提出了合理的建议.

关键词： 系统芯片 可测试性设计 边界扫描 内置自测试

作者: 张承义 张民选 王永文 高军

作者单位: 国防科学技术大学计算机学院(长沙)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届计算机工程与工艺学术年会

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 172-178

在线出版日期: 2001-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）