超宽带短脉冲辐射场对电路的损伤效应

摘要：

该文简要介绍超宽带短脉冲EMP(UWB/SP-EMP)试验系统和UWB/SP-EMP对电路的损伤效应试验方法，给出了最近在UWB/SP-EMP场下，对单元电路、集成运算放大器电路的瞬态扰动规律，电路的饱和时间随场强的变化规律，双极晶体管玫数字集成电路的永久损伤阈值场强。

关键词： 超定带短脉冲 双脊型TEM喇叭天线 光纤测场系统 损伤效应 损伤阈值

作者: 谢泽元 景涛 王自元

作者单位: 中国工程物理研究院应用电子学研究所(成都)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会

会议地点: 江苏扬州

会议语种:中文

页码: 305～316

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）