掺锡C60薄膜材料的电子结构与电导性研究

摘要：

本文报道了锡掺杂C60薄膜样品的扫描电镜,X-射线,紫外可见光吸收和电阻的测量结果,显示薄膜为纳米级颗粒组成,掺锡前后基本结构不变;掺锡后紫外可见光吸收的两个短波段吸收峰显著下降,且三个峰位都有微小红移;电阻随温度增加而呈指数衰减,呈半导体型,霍尔效应证实为N型半导体.

关键词： 锡掺杂 紫外可见光吸收 电阻 C60薄膜

作者: 伍春燕 张海燕 何艳阳 朱燕娟 陈易明 梁远博

作者单位: 广东工业大学应用物理系(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第二届纳米材料和技术应用会议

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: F96-F99

在线出版日期: 2001-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）