高纯稀土氟化物主量和痕量杂质元素的XRF光谱分析
提出了用玻璃熔融片法制样,以PW1404型XRF光谱测定常见的稀土氟化物(NdF<,3>、DyF<,3>、PrF<,3>等)主量元素纯度和杂质元素.标准样品采用高纯氧化物标准加盐酸溶解,氢氟酸沉淀、蒸干、熔融制成玻璃片,达到和未知样品相对应用高倍稀释法测量计算、工作曲线校正两种方法准确分析主量稀土元素纯度和杂质稀土含量.测量范围为0.005℅～99.95℅,能够满足日常生产工艺控制、科研和出口委托检测的要求.
稀土氟化物 玻璃熔融片 高倍稀释法 光谱分析 痕量测定
郝丽萍
中国兵器工业第五二研究所(包头)
国内会议
深圳
中文
75-79
1999-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）