物理显影（无电沉积）机理的正电子寿命谱表征

摘要：

用正电子湮没技术研究了无电沉积的机理，根据实验测得的正电子湮没第三寿命τ<,3>，及由此计算的自由体积空穴的平均半径R、体积Vc及自由体积份数的相对值，证明在辐照相明胶的物理显影（铜无电沉积）过程中，沉积的铜会填充明胶的自由体积空穴，即明胶的自由体积对铜物理显影过程中铜的沉积生长没有阻碍作用，铜无电沉积近似为各向同性的球状堆积。

关键词： 物理显影 正电子寿命谱

作者: 宫竹芳 袁军华 杨保忠 张宜恒 张广祥 徐绪国

作者单位: 中国科学技术大学近代物理系 中国科学技术大学应用化学系(合肥)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第七届正电子湮没学术会议

会议地点: 泉州

会议语种:中文

页码: 125-129

在线出版日期: 1999-04-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）