集成电路引线焊接无损检测技术的研究

摘要：

激光扫描声学显微镜是一种新型的集成电路引线焊接无损检测技术.本文分析了该技术用于集成电路引线焊接测量的一些设计参数和技术指标,阐述了实验系统,最后给出了一些集成电路样品的实验结果.

关键词： 无损检测 集成电路 引线焊接 SLAM

作者: 王亚非 周鹰 张天良 张映敏

作者单位: 电子科技大学光电子技术系(成都)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国仪器仪表学会第三届青年学术会议

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 250-251

在线出版日期: 2001-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）