高纯钨粉中痕量元素的ICP-MS分析方法研究及应用

摘要：

研究了99.999℅高纯钨粉中15个痕量杂质元素的分析检测方法,对电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)仪器工作参数进行优化,研究了基体效应、介质影响,并采用内标法、标准加入法消除基体效应,直接测定高纯钨粉中15个待测痕量元素,取得较好的效果.V、Ni、Co、Mn、As、Sb、Bi、Ag、Cu等多种元素检测范围达到0.10～1.0·kg<”-1>.

关键词： 高纯钨粉 ICP-MS痕量杂质元素 痕量分析

作者: 吴辛友 章坚

作者单位: 北京有色金属研究总院分析测试所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届微量元素研究与进展学术交流会

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 118-120

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）