电喷雾质谱法表征甲基三乙氧基硅烷与四乙氧基硅杂化溶胶低聚体
用电喷雾离子化质谱(ESI-MS)法测定了甲基三乙氧基硅氧烷(MEOS)和四乙氧基硅氧烷(TEOS)水解和缩聚杂化溶胶低聚体.其ESI-MS谱呈现一系列离子峰簇,簇内的相邻离子峰的质量数相差2,这可解释为1个羟基和1个甲基质量数之差.杂化溶胶低聚体的甲基数目对应于MEOS单元数,所以可以得到MEOS单元在各种低聚体中的数目.根据水解和缩合的反应机制杂化溶胶试样中各种低聚体组成可以由ESI-MS单元在各种低聚体中的数目.根据水解和缩合的反应机制杂化溶胶试样中各种低聚体组成可以由ESI-MS谱推算出.ESI-MS是一种方便和可靠的研究杂化溶胶低聚体的方法.
电喷雾质谱 甲基三乙氧基硅烷 四乙氧基硅氧烷 杂化溶胶 低聚体
刘兰珍
中国科学院化学研究所分子科学中心,高分子物理与化学国家重点实验室(北京)
国内会议
深圳
中文
82-84
2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）