铬铁矿砂中主要成分的X射线荧光光谱法测定研究

摘要：

使用日本理学3080E<,3>型X射线荧光光谱仪,采用粉末直接压片和理论a系数法校正基体效应的方法,建立了铬铁矿砂样品中Cr<,2>O<,3>、TFe、SiO<,2>、MgO、Al<,2>O<,3>、CaO组分的的快速测定方法.研究了制样条件,克服了粉末样品的粒度效应,用内控标样制做标准曲线,分析结果的精密度和准确度不低于化学法.

关键词： X射线荧光光谱 铬铁矿砂 粉末压片

作者: 张乔 童晓民

作者单位: 沈阳铸造研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 首届中国国际铸造材料会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 129-133

在线出版日期: 2001-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）