纳米级Sb2O3粉体平均粒径的测定

摘要：

采用比表面积法、X射线小角散射法和扫描电镜观测法测试纳米级球状的Sb<,2>O<,3>粉体的平均粒径,并对测试结果进行比较.

关键词： 比表面积 X射线小角散射 透射电镜 纳米Sb2O3粉体

作者: 纪崇甲

作者单位: 中国科学院力学研究所（北京）

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国颗粒测试学术会议

会议地点: 丹东

会议语种:中文

页码: 131-134

在线出版日期: 2001-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）