提高大视场图像测量精度的CCD光学拼接技术

摘要：

本文介绍了提高大视场图像测量精度的途径,比较了CCD光学拼接方法.具体叙述了二次分光式CCD光学拼接装置的结构原理,采取的技术措施.最后,给出了检测结果与应用前景.

关键词： 大视场 二次分光 CCD光学拼接 像元尺度 图像测量

作者: 戴俊钊 杨洪

作者单位: 中国科学院光电技术研究所(成都)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届全国红外科学技术交流会暨全国光电技术学术交流会

会议地点: 宁波

会议语种:中文

页码: 331-333

在线出版日期: 2001-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）