小型存储测试系统中的二级缓存技术

摘要：

根据存储测试技术要求测试系统小体积、微功耗的特点,对比分析了几种数据存储技术,并提出采用SRAM暂存测试数据,待测试完成后再把数据压缩并存储到串行EEPROM中,以适应电池供电的测试系统中数据的断电保存.

关键词： 存储测试 二级缓存 I2C总线

作者: 江小华 孙全意 张河

作者单位: 南京理工大学(江苏南京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届引信学术年会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 421-424

在线出版日期: 2001-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）