Cd1-yZnyTe晶片的红外透射分层域显微像

摘要：

Cd1-yZnyTe晶片材料是制作本征型红外探测器用Hg1-xCdxTe外延薄膜的最佳衬底材料,同时了是制备高性能X、γ射线探测器和高性能太阳能电池的重要材料,但是由于该材料在晶体生长过程存在热动力学和技术上的困难,容易在晶体中形成Te和Cd的沉积相.本文观察了一块Cd<,0.96>Zn<,0.04>Te晶片的八层红外透射分层域聚焦显微像,分析了各个层域的Te夹杂情况及Te夹杂密度,提出了一种找到CdZnTe较小夹杂密度层域面并用之来做外延HgCdTe衬底表面的方法.

关键词： Cd1-yZnTe材料 红外透射显微镜 Te夹杂 夹杂密度

作者: 许京军 张存洲 张光寅 黄晖 昆明物理研究所(昆明) 董先庆 莫玉东 潘顺臣

作者单位: 南开大学物理科学学院学子学中心(天津) 昆明物理研究所(昆明)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届全国红外科学技术交流会暨全国光电技术学术交流会

会议地点: 宁波

会议语种:中文

页码: 152-154

在线出版日期: 2001-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）