光电子技术中的若干计量测试问题

摘要：

文章将就光电子技术与产业领域提出的急切的计量测试问题如激光辐射度学、光纤计量学、波分复用(WDM)系统计量学等作简要评述.

关键词： 激光辐射度学 光纤计量学 偏振模式色散 波长标样 光电子技术 计量测试

作者: 李同保

作者单位: 同济大学(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国光电技术及系统学术会议

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 30-35

在线出版日期: 2001-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）