微结构中化学荧光猝灭反应和测试研究

关键词： 微芯片 荧光猝灭 测试

作者: 徐溢 F.Bessoth A.Manz

作者单位: 重庆大学环境与化学化工学院(重庆) Analysis Science Center,Chemistry Department,Imperial College,England,SW7,2AY

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国化学会第七届分析化学年会暨原子光谱学术会议

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 204-205

在线出版日期: 2000-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）