DDTA在BGO晶体色芯缺陷分析中的应用

摘要：

本研究利用差热分析仪对联BGO晶体色芯、非色芯样品进行分析,并采用微分数据处理方法对热分析曲线进行处理,结果显示:适当的处理方法(DDTA)可更详尽地观察到样品所包含的信息.同时综合DDTA结果及Bi<,2>O<,3>---GeO<,2>系统关系讨论了BGO晶体色芯的形成.

关键词： 微分差热分析 差热分析 锗酸铋晶体 色芯

作者: 荣丽梅 包生祥

作者单位: 电子科技大学信息材料工程学院分析中心(四川成都)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届中国功能材料及其应用学术会议

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 732-733

在线出版日期: 2001-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）