微波集成电路芯片的S参数的测试

摘要：

该文描述了微波集成电路芯片及FET、Bipolars芯片的S参数测试系统的基本原理；介绍了测试夹具及TRL校准原理和方法；测试结果分析及可能带来的误差；自动网络分析仪的发展与微波CAD系统。

关键词： 微波集成电路 微波器件 芯片测试

作者: 高翠琢

作者单位: 工业部第十三研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: ”98全国第七届MIC电路及工艺会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 88～90

在线出版日期: 1998-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）