统计公差与表面粗糙度的统计评定

摘要：

该文系统分析现行几何公差标准及其体系的缺点，提出统计公差的特征及其合理性，明确提出“统计公差即统计参数的公差”，指出“统计公差是几何公差的发展方向”，并以表面粗糙度统计评定的发展说明统计公差的优越性。

关键词： 统计公差 统计参数 表面粗糙度 统计评定

作者: 高咏生 熊峰 李柱

作者单位: 香港科技大学机械工程系(香港九龙清水湾) 华中科技大学机械科学与工程学院仪器系(湖北武汉)

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国首届计算机辅助公差设计专题学术会议暨全国高校互换性与测量技术研究会2000年年会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 261～268

在线出版日期: 2000-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）