纳米尺度上铁电薄膜的漏电行为与铁电性研究
运用一台经改进的原子力显微镜对PZT/YBCO异质结的微区漏电流和铁电性的关系进行了研究.样品形貌和漏电流的不均匀性与样品形貌及反映样品铁电性的压电响应被同时成像,并在纳米尺度上进行了研究.结果表明,漏电路径首先出现在晶界的薄弱处,随电场的增加而发展到整个晶粒.微观漏电流可由空间电荷限制电流模型加以描述.
铁电/超导异质结 铁电性 原子力显微镜 漏电流 铁电薄膜
谢中 赵立华 王祝盈 陈小华 黄桂芳 罗恩洲 许建斌 I.H.Wilson 赵柏儒
湖南大学材料科学与工程学院 湖南大学应用物理系(湖南长沙) 香港中文大学电子工程系,材料科学与技术研究中心(香港) 中国科学院物理研究所国家超导重点实验室(北京)
国内会议
厦门
中文
1384-1387
2001-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）