80C86单粒子效应测试及实验研究

摘要：

单粒子效应是影响卫星正常工作主要因数之一，它是由于空间带电离子入到超大规模集成电路(如SRAM、CPU、FPGA等)中所引起的。由于CPU单粒子效应测试系统复杂，帮国内外在这一方面的报道不多。该文较详细介绍了研究人员所研制80C86单粒子效应测试原理、实验方案其数据处理。

关键词： CPU 单粒子效应 闭锁

作者: 陈晓华 贺朝会

作者单位: 西北核技术研究所(西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会

会议地点: 江苏扬州

会议语种:中文

页码: 447～450

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）