关键词: 锁开关 失效分析 结构设计
作者: 苏太东
作者单位: 信息产业部电子第四十研究所
会议类型: 国内会议
会议名称: 中国电子学会元件分会第六届学术会议
会议地点: 桂林
会议语种:中文
页码: 106~110
在线出版日期: 2000-10-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)