RAM译码器故障分析与算法设计

摘要：

RAM测试在许多方面不同于传统的随机逻辑测试,RAM阵列故障可用步进测试算法或其它的线性测试算法检测,但这些测试算法不能检测CMOS地址译器中的某些开路故障.本文在分析CMOS RAM地址译码器开路缺陷的基础之上,提出了一种简单的地址译码器测试算法,在不降低测试效率的前提下,补充到步进测试算法或其它线性测试算法上,可有效地提高RAM测试故障被测度.

关键词： 随机存取存储器 地址译码器 开路缺陷 步进测试 故障被测度

作者: 彭新光 陈俊杰

作者单位: 太原理工大学信息工程学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第六届电子测量与仪器学术报告会

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 515-518

在线出版日期: 2000-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）