C测试系统的多路复用技术

摘要：

随着微电子技术的迅速发展，IC的发展变得越来越复杂，商品微机芯片已达300MHz，32位的Petium；存储器方面16M的DRAM已批量生产，64M的DRAM也开始批量生产，IC复杂度的提升为测试领域提出了变革性的挑战，新型设计结构和技术不断应用于ATE中。 作为九十年代自动测试系统典范的ITS9000测试系统无论在硬件结构还是软件结构上都有所创新。 该文主要讲解Mux Mode多路复用技术，该项技术成倍提高测试速率。

关键词： 测试系统 多路复用技术 微电子技术

作者: 李琳 黄川南

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 139～140

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）