L波段低损馈线－测试耦合器一体化设计

摘要：

该文介绍了一种测试耦合器的设计，测试耦合器采用TEM方同轴线集成化设计，具有体积小，重量轻，插损小，抗大功率微放电、低PTM等特点。馈线－测试耦合器集成化设计由Ansoft公司的Eminence软件仿真，并给出了实测结果。

关键词： 测试耦合器 集成化设计 L波段 低损馈线

作者: 吴春邦 刘波 曹多礼

作者单位: 西安空间无线电技术研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会空间电子学年会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 164～165

在线出版日期: 2000-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）