基于MAP方案的数字集成电路测试量值的溯源技术

摘要：

为满足质量体系所要求的对于IC ATE测试量值的溯源需要，结合数字IC ATE的特点，研制了可用于数字IC ATE现场溯源的交直流传递标准器和相应的数据自理软件包，较好地解决了IC ATE测量量值的溯源问题，并根据MAP 原理，在多台不同型号的IC ATE上进行了比对实验，进而对实验结果进行了分析，取得了预期的成果。

关键词： 数字集成电路 测试量值 溯源技术

作者: 陈大为 吴京燕

作者单位: 中国电子技术标准化研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 2000年计量测试学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 508～511

在线出版日期: 2000-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）