测试环境对被测器件（DUT）的影响

摘要：

该文使用数值分析方法研究测试环境对被测器件（DUT）影响。采用TLM（传输线模型）方法对不同测试环境中被测器件表面的电场分布进行了计算。数值结果表明，环境确实对被测器件表面的场分布影响，尤其是对于不能被考虑为电小尺寸的器件。因此，当对非电小尺寸的器件进行电磁兼容性测试时，需要仔细考虑以减少测试误差。

关键词： 数值方法 电磁兼容测量 屏蔽室

作者: 张宇 逯贵祯 毛志伋

作者单位: 北京广播学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国核学会计算物理学会计算电磁学专业委员会第二届计算电磁学研讨会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 51-56

在线出版日期: 1998-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）