HP82000混合集成电路测试系统应用于DAC的快速测试

摘要：

介绍了用HP82000集成电路混合测试验证系统对数模转换器进行快速测试的有效方法。

关键词： 数模转换器 测试 HP82O0O HP VEE DAC

作者: 钟征宇 谭超元

作者单位: 部五所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第九届学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 201～205

在线出版日期: 1998-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）