时序电路测试中时间及测试序列识别问题研究

摘要：

在将组合电路测试生成算法运用到迭代组合模型的时序电路测试生成时会遇到如下一些问题，如大反馈线识别问题、迭代组合模型中的时间问题、有效测试序列识别问题、脉冲线的处理问题等，该文针对迭代组合模型的时序电路测试生成中的这些问题，进行了有益的探讨，提出了改进的时序电路测试生成算法，使之更加完善。同时也提出了快速识别大反馈线与识别有效测试序列的方法。

关键词： 时序电路测试 迭代组合 大反馈线 脉冲线 模式识别 序列识别

作者: 陈思成 魏道政 王仲

作者单位: 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 科学院计算技术研究所CAD开放实验室

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国图象图形科技大会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 305～308

在线出版日期: 1998-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）