时序电路的时序深度分析及基于遗传算法的初始化

摘要：

基于遗传算法的时序电路测试生成需要确定测试序列长度参数，这与电路时序深度有关。该文定义逻辑时序深度概念，提出一种时序深度测度－－时序元件可达性，并用于研究基于遗传算法的时序电路初始化问题。

关键词： 时序测试 时序深度分析 遗传算法 初始化

作者: 沈理

作者单位: 科学院计算技术研究所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国容错计算学术会议

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 61～67

在线出版日期: 1999-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）