石墨在无机酸中电化学插、脱层的可逆性

摘要：

该文对ＨＯＰＧ经过Ｈ〈，２〉ＳＯ〈，４〉、ＨＮＯ〈，３〉和ＨＣｌＯ〈，４〉插、脱层后的石墨残余层间化合物（ＲＧＩＣ）进行了ＳＥＭ和ＸＲＤ的分析。实验表明，随着无机酸插、脱层次数的增多ＨＰＯＧ的层状结构将完全破坏。

关键词： 石墨层间化合物 无机酸 插脱层 可逆性 石墨 纳米材料 复合材料

作者: 苏玉长 徐仲榆

作者单位: 湖南大学新型炭材料研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第17届炭-石墨材料学术会议

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 269～274

在线出版日期: 1998-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）