会议专题

行波管可靠性失效率模型的研究

该文以行波管现场使用数据和失效模式为基础,根据可靠性理论对真空电子器件失效率或平均寿命考核可靠性指标的方法,参照美国军标MIL-HDBK一217E,F,结合我国具体实际,对行波管失效率的数学模型,采用数理统计回归分析后,定量得出我国行波管可靠性的水平,并用现场数据对失效率模型进行验证,提出我国行波管总体可靠性水平与美国之间的差距。

失效机理 失效率 可靠性预计 平均寿命

苏振华 杨家铿

部第五研究所

国内会议

中国电子学会可靠性分会第九届学术年会

成都

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246~253

1998-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)