对数字电路扇出的影响和造成困难的分析

摘要：

该文提出一种在Benchmark 电路中存在的隐工扇出和描述实际组合电路中扇出的一种方法。 从D传送、赋值和冗余、难测故障等方面，对扇出的影响造成的困难进行了分析，并叙述了其影响的范围和程序。

关键词： 扇出树 数字集成电路

作者: 梁业伟 杨志娟 石茵 魏道政

作者单位: 北京工业大学计算机学院(北京) 中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届中国集成电路测试学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 30～39

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）