X射线荧光光谱法直接测定钥铕钆富集物中10种稀土元素

摘要：

该文采用X荧光光谱粉末压片法直接测定钥铕钆富集物中10种稀土元素， 研制了一套与样品相同类型的标准做回归分析，用干扰系数法作谱线重叠校正，用WinXRFV2.0提供的基体影响校正程序修正共存元素的基体效应，根据谱线强度与样品浓度成线性关系，求得分析元素的含量。分析结果与人工合成样品数据一致。方法的精密度为0.21℅～3.16℅。

关键词： 钐铕钆富集物 X射线荧光光谱分 粉末压片法 稀土元素测定

作者: 于晶雪 汤运国 陈立民 王新萍

作者单位: 古包钢稀土高科技股份有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国稀土学会第四届学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 776～779

在线出版日期: 2000-11-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）