外加电压对用STM进行钛膜氧化结果的影响

摘要：

我们研究了扫描隧道显微镜(STM)在不同氧化电压下对钛膜氧化结果的影响,并对实验结果作了分析,通过测试证实了不完全氧化钛膜中存在隧道结结构.

关键词： 扫描隧道显微镜 隧道结 STM 钛膜 氧化电压

作者: 黄萍 沈波 蒋建飞 蔡琪玉 程子川

作者单位: 上海交通大学微/纳米科学技术研究院(上海)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届全国微米/纳米技术学术会议

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 377-379

在线出版日期: 2000-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）