基于扫描的内建自测试中的测试立方的覆盖概率分析

摘要：

在介绍测试生成结构的基础上该文分析了基于扫描的内建自测试中的测试立方的覆盖概率问题。并以ＬＦＳＲ作为测试向量生成器分析了ＬＦＳＲ的阶数ｋ与扫描链长度ｍ之间的关系。从而确定了可实现最小硬件开销的最小ＬＦＳＲ阶数ｋ〈，ｍｉｎ〉

关键词： 扫描 内键自测试 测试立方 LFSR

作者: 李兆麟 毛志刚 叶以正

作者单位: 滨工业大学微电子中心313信箱

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国容错计算学术会议

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 223～226

在线出版日期: 1999-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）