光散射法检测光学件缺陷及损伤的探讨
大型高功率激光系统对精光学元件的损伤阈值提出了高的要求，而传统观点认为材料中的缺陷是造成损伤的重要原因之一。现代光学检测技术为探测光学元件损伤及其缺陷提供了实验依据。作者们为了在缺陷存在的条件下，在线检测损伤发生的情况，讨论利用光散射法所做的实验以及如何对散射光进行分析。
散射光 损伤 内部缺陷 激光诊断 光学元件 缺陷
彭净 叶琳 黄祖鑫 唐灿 蒋晓东
中物院激光聚变研究中心(四川)
国内会议
成都
中文
226～232
2000-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）