会议专题

Nb-Ti-Si三元系相变及相关系

用三元扩散偶技术测定Nb-Ti-Si三元系1473K和1373K下的等温截面。用电子探针微区成分分析的方法研究了扩散偶中的扩散层;发现在实验温度下Nb-Ti-Si三元系不形成三元化合物。讨论了由1473K至1373K Nb-Ti-Si三元系所发生的相变。

三元系相变 等温截面 相关系

王日初 刘立斌 王冲 金展鹏

中南大学材料科学与工程系 中南大学材料科学与 工程系

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2000-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)