用ZnS/CdSe量子点标记、激光共聚焦扫描法在微阵列芯片上进行免疫分析

关键词： CdSe/ZnS量子点 纳米材料荧光标记 三明治免疫分析法

作者: 孙宝全 衣光舜 陈德补 谢文章 周玉祥 程京 孙宝全 陈德补

作者单位: 清华大学化学系(北京) 清华大学生物芯片开发中心(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国化学会第七届分析化学年会暨原子光谱学术会议

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 220-221

在线出版日期: 2000-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）