壁流订簿膜电阻的现象

摘要：

介绍簿膜型ns壁流探测器中使用的簿膜电阻片受强辐照影响产生断裂现象。文中给出了辐照后薄膜电阻处各项测试结果及简要分析。合肥同步辐射光源200Mev电子直线加速器坑道内，簿膜型ns壁流探测器在线运行七个月后，取下簿膜电阻征做参数测试及结构分析。结果表明，由于电阻片性能变坏，限定了此种壁流探测器的有效使用寿命短于半年。

关键词： 强辐照 薄膜型电阻 结构分析

作者: 王贵诚 冷用斌 陶小平

作者单位: 中国科学技术大学国家同步辐射实验室(合肥)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届全国加速器物理学术交流会

会议地点: 黑龙江镜泊湖

会议语种:中文

页码: 139～142

在线出版日期: 1999-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）