气敏元件参数智能测试系统的研制

摘要：

气敏元件参数智能测试系统是以α-F<,e2>O<,3>及S<,n>O<,2>、Z<,2>O半导体气敏元件测试对象，采用上、下位机联机工作，整套测试系统由试验箱（含注气装置）、控制箱（下位机）、PC机（上位机）及打印机共三部分组成。试验箱按需要构造一个气体环境，下位机以单片机为核心，高速对100路元件采样，并将数据存入RAM中，通过通讯口将数据输入上位机的数据处理软件，按中文菜单所列的功能进行数据处理，并打印数据处理结果。

关键词： 气敏元件 测试系统

作者: 王天荣 丁喜波 周真

作者单位: 哈尔滨理工大学

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国机械工程学会摩擦学分会测试技术专业委员会第一届学术交流会

会议地点: 济南

会议语种:中文

页码: 33～36

在线出版日期: 1999-05-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）