片式电子元件可靠性的快速评价

摘要：

该文介绍了片式电子元件可靠性快速评价的新方法－综合试验应力加速寿命试验方法。以片式瓷介电容器为例，概述了综合试验应力加速寿命试验方法的模型、加速寿命方程及其失效率的预计方法，概述了综合试验应力加速寿命试验方法推广应用的实例及数据统计结果。

关键词： 片式电子元件 可靠性评价 综合试验应力

作者: 王锡清 冯泽松

作者单位: 信息产业部电子五所 国营七九八厂

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会第十一届电子元件学术年会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 88～92

在线出版日期: 2000-11-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）