用TXRF技术分析镍基溶液中的痕量元素

摘要：

该文介绍了应用自制全反射Ｘ荧光分析仪，测定了镍基溶液中痕量杂质元素Ｆｅ、Ｃｏ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｐｂ，其中元素最小含量在１０〈’－１〉μｇ／ｍｌ量级。配制的标准样品中Ｐｂ的含量最低，０．０５０μｇ／ｍｌ，分析结果为０．０６９μｇ／ｍ＃，偏差为±３８℅。为了减小测量误差，采取用化学方法降低镍含量的措施。降镍稀释处理后的Ｐｂ的含量最小，０．０１５ｇ／ｍｌ，还原到原液含量为０．８７μｇ／ｍｌ。

关键词： 镍基溶液 痕量元素分析 全反射X荧光分析仪

作者: 刘恺 郑素华 邬旭然

作者单位: 大学

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国兵工学会第九届测试技术年会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 313～318

在线出版日期: 1998-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）