杂质对CaF<,2>光学晶体品质的影响

摘要：

本文叙述了用B-S方法生长CaF<,2>晶体时,几种常见的负离子杂质对CaF<,2>晶体的品质的影响,主要分析了O<”2->、S<”2->两种负离子在CaF<,2>晶体中的存在形式,通过偏光显微镜分析了晶体杂质及周边基质CaF<,2>晶体的应力,并解释了杂质晶体及基质晶体位错缺陷的成因.本文还分析了其它常见的杂质在不同的掺杂浓度下,对CaF<,2>晶体品质产生的影响.

关键词： CaF<,2>晶体 CaO CaS 位错分布 消光 晶格常数 光学材料

作者: 臧春雨 曹望和 牛春晖 崔承甲

作者单位: 中科院长春光学精密机械与物理研究所(吉林长春) 大连海事大学数理系(辽宁大连)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届中国功能材料及其应用学术会议

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 291-293

在线出版日期: 2001-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）