光纤剖面折射率分布测量新方法
该文在简述逆几何光学理论基础上，讨论了如何结合计算机图象处理技术根据光线轨迹得出光媒质的剖面折射率分布方法，并且用在改型干涉显微镜基础上建立的CCD摄像显微镜实验装置作出验证，从而也提出一种光纤剖面折射率分布测量的简便、易行、精度精度可靠的新方法。该文介绍的新方法对如何保证目前已被越来越普遍地应用于光通讯和光纤传感器中光纤性能的主要参数检测有十分显著的意义。
逆几何光学 光纤剖面折射率 光不非均匀介质
朱若谷 陈本永
中国计量学院计测系(杭州) 浙江大学机械系(杭州)
国内会议
昆明
中文
187～189
1999-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）