关键词： 挠度测试 挠度测试仪
作者: 贺翔 王佩良 聂晶
作者单位: 中国科学院高能物理研究所电子学室(北京)
会议类型: 国内会议
会议名称: 第十届全国核电子学与核探测技术学术年会
会议地点: 成都
会议语种:中文
页码: 417～419
在线出版日期: 2000-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）