细观力学纳米测量技术中的外差云纹干涉法

摘要：

将光外差纳米技术引入去纹干涉法，大大提高了位移测量和应变测量的灵敏度（纳米量级和微应变量级）为细观力学实验研究提供了一个有效途径。

关键词： 纳米测量 去纹干涉 光外差 细观力学

作者: 秦玉文 余显斌 樊海波 郭广平

作者单位: 天津大学力学系(天津) 北京航空材料研究院(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 力学2000学术大会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 344～345

在线出版日期: 2000-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）