纳米金属薄膜电导率经典尺寸效应对其可见光透射率影响的实验研究

摘要：

测量纳米Ａｌ膜和Ｔｉ膜的方块电阻，得到直流电导率，利用ＷＦＺ９００－Ｄ４型紫外／可见分光光度计测量可见光透射率，研究纳米金属薄膜电导率经典尺寸效应对其可见光透射率的影响。实验结果表明，电导率经典尺寸效应导致光学透射率增强。

关键词： 纳米材料 超细粉 薄膜材料 金属粉末 电导率 透光度

作者: 白雪冬 黄荣芳 闻立时

作者单位: 科学院金属研究所(沈阳)

会议类型: 国内会议

会议名称: 1998年中国材料研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 124～126

在线出版日期: 1999-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）