会议专题

数字图像分析法深孔内表面缺陷自动识别研究

该文介绍了实施深孔内表面缺陷形态自动检测与识别所采用的有关方法。包括图像采集系统的硬件配置、图像的预处理、缺陷与背景的分离、表征参数的确定、形态信息的获取、树型分类器的设计等。

模式识别 图像处理 表面缺陷 深孔探测

王琼 张仁杰 邱冠华

上海理工大学光学与电子信息工程学院(上海)

国内会议

全国首届计算机辅助公差设计专题学术会议暨全国高校互换性与测量技术研究会2000年年会

杭州

中文

467~470

2000-08-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)