基于面阵CCD成像技术的测量仪器及系统的研制

摘要：

介绍了基于面阵CCD成像技术的测量仪器的光学系统参数设计、测量原理和电路系统的实现方法.应用结果表明其设计有独到之处,适用于许多难以检验的小尺寸工件的测量,操作简单.精度可以满足工艺控制的要求.

关键词： 面阵CCD 图形图像叠加 单片机测量 图像处理 电子测量

作者: 许昌 周铭 骆瑞伦 金荣泰

作者单位: 中国计量学院机电工程学院(杭州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国仪器仪表学会第三届青年学术会议

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 218-220

在线出版日期: 2001-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）