VLSI并行测试生成系统的一种动态层次结构

摘要：

随着ＶＬＳＩ技术的发展和计算机性能的提高，并行测试生成系统不仅必需而且可行。该文在总结已有并行技术的基础上，提出了并行测试生成系统的一种动态层次结构，并对该结构进行了分析。

关键词： 并行测试生成 故障分解 启发规则分解 与一并行功能分解 或一并行功能分解 电路分解

作者: 刘蓬侠 曹贺锋

作者单位: 科技大学计算机学院研究生队 数字工程研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国容错计算学术会议

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 72～78

在线出版日期: 1999-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）